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ASI J200 TANDEM 复合系统
(Laser Induced Breakdown Spectroscopy, LIBS)相融合, 研发了J200系列激光剥蚀进样系统及光谱分析系统。 J200 纳秒激光剥蚀及激光诱导击穿光谱复合
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J200 激光光谱元素分析系统
较好。多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品,例如土壤、植物样品等,以减少基质中其它元素对目标元素的影响,提高分析准确性。 此外,J200的数据分析软件还具有PCA、PLS-DA、多参数线性
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J200 Femto iX LA 激光烧蚀(LA)
J200 Femto iX LA 激光烧蚀(LA)该设备是ASI生产,美国劳伦斯伯克利国家实验室的科研人员进行技术的研究,具有80多年LIBS技术的研究经验,对于激光、光谱仪器、成像系统、计算
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ASI J200 LA 激光剥蚀进样系统
J200飞秒激光剥蚀进样系统是ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景,系统通过非热过程,施加超高激光辐射剥蚀样品,产生的颗粒能在ICP源
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美国应用J200激光诱导击穿光谱仪(LIBS)
J200激光诱导击穿光谱仪(LIBS)可将大量的等离子光耦合到检测器模块,此功能可实现高的灵敏度性能,通过对各种材料的不同干扰进行广泛测试的证明,ASI的化学计量软件包为我们的客户增加了另一层次的
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J200飞秒激光剥蚀固体进样系统
大于数微米),驻留在输送管中,导致运输效率低,并且降低了分析的灵敏度。大样品颗粒还会在ICP-MS的瞬时信号中产生峰值,导致测量精度降低。J200系统产生的样品颗粒均匀一致,且尺寸分布合理,一般在
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J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统
J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统软件中的PCA工具是使用LIBS、质谱或两个光谱对各种样品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地质矿物等)进行分类或鉴别的理想方法,能瞬时
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手提式厚度计
包括以下不同型号: J50型, 10mm×0.01mm量程,50mm探距,30mm直径平砧J100型,10mm×0.01mm量程,100mm探距,30mm直径平砧J200型,10mm
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多参数检测仪(65参数)
多参数检测仪(65参数)一、多参数检测仪(65参数)产品介绍GDYS-201M型多参数检测仪(65参数)适用于生活饮用水及其水源水、地表水、地下水和养殖用水等水质的测定。产品参数序号参数
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多参数水质分析仪(5参数)
1、可以同时检测5个参数2、快速测定,节省人工3、可以检测多种类型水质多参数水质分析仪(5参数)仪表应用微电脑散射光检测浊度,光电子比色检测离子。 XZ-0105多参数水质分析仪(5参数)适用于
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